<noframes id="pjnnp">

      <em id="pjnnp"></em>
        <ol id="pjnnp"><big id="pjnnp"><th id="pjnnp"></th></big></ol>

        <b id="pjnnp"></b>

          當前位置:網站首頁 > 產品展示 > 等離子體-材料表面 > 飛行時間二次離子質譜儀
          產品展示
          • TOF-qSIMS飛行時間二次離子質譜儀
            Hiden TOF-qSIMS 飛行時間二次離子質譜工作站設計用于多種材料的表面分析和深度剖析應用,包括聚合物,藥物,超導體,半導體,合金,光學和功能涂層以及電介質,檢測限低于1ppm。$nTOF-qSIMS Workstation 包含了四極桿質譜和飛行時間質譜。
            時間:2021-09-03型號:TOF-qSIMS瀏覽量:1965
            共 1 條記錄,當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 
          Contact Us
          • 聯系QQ:52436437
          • 聯系郵箱:info@extratech.com.cn
          • 聯系電話:010 5272 2415
          • 聯系地址:北京市海淀區四季青路8號酈城工作區235

          掃一掃  微信咨詢

          © 2022 北京英格海德分析技術有限公司 版權所有  備案號:京ICP備05008133號-4  技術支持:化工儀器網    管理登陸    sitemap.xml

          服務熱線
          13501238067

          微信掃一掃

          57pao一国产成视频永久免费
            <noframes id="pjnnp">

              <em id="pjnnp"></em>
                <ol id="pjnnp"><big id="pjnnp"><th id="pjnnp"></th></big></ol>

                <b id="pjnnp"></b>